今天为您讲解高压介质损耗测试仪之介质损耗因素测量方法：正接法，发接法，反接屏蔽法

高压介质损耗测试仪

正接法

正接法适用于两极对地绝缘的被试设备，如电容式套管、电容式电流互感器、耦合电容器、变压器和互感器的绕组间。

反接法

反接法适用于一端接地的试品，几乎所有高压电气设备都可以采用反接法测量时，被试品高压电极连同引线的对地寄生电容与被试品电容并联，会产生测量误差，尤其是被试设备电容量较小时，误差更大。

反接屏蔽法

反接屏蔽法适用于多个电容串联、并联且有接地端的特殊情况，如变压器、500kV电容式电压互感器等。

介质损耗因素测量

油浸式电流互感器、干式(固体绝缘和绝缘绕包干式)电流互感器、油纸电容型套管耦合电容器和电容式电压互感器等，当tanδ。值与出厂值或上一次试验值比较有明显增长时应综合分析tanδ与温度、电压的关系;当tanδ随温度明显变化，或试验电压由10kV到Um/√3,tanδ增量超过±0.003时，不应继续运行。因此，在这些情况下，需要进行高电压下的介质损耗因数测量。

介质损耗因数测试仪是专门设计用于高电压介质损耗因数测量的，集高压介质损耗因数电桥和大功率变频电源为一体，既能接试验变压器进行自动高电压介质损耗因数试验，又能直接驱动串联谐振装置进行变频高电压介质损耗因数试验也可进行外接工频、变频高电压介质损耗因数试验，还可测量tanδ=f(U)升压降压关系曲线:即可任意设定若干个试验电压点，高压介质损耗测试仪器按照设定的电压自动测量，最后给出测量数据包括tanδ=f(U)升压降压关系曲线，通过曲线走势以及上升曲线与下降曲线的重合情况，来判断运行设备的状态。